Бесконтактный способ исследования поверхности металлов посредством терагерцевого (ТГц) излучения
Бесконтактный способ исследования поверхности металлов посредством терагерцевого (ТГц) излучения
Проблема
Сложности в точном измерении распределения электромагнитного поля терагерцевых поверхностных плазмон-поляритонов (ППП) из-за наличия паразитных объемных волн (ОВ), мешающих получению чистых данных
Технология
Технология включает способ измерения распределения интенсивности поля ППП с использованием экранирования приемника от паразитных ОВ. Основной процесс включает два этапа: сначала измеряется совокупное распределение полей ППП и ОВ, затем определяется распределение только для ОВ, после чего вычисляется чистое распределение поля ППП как разность двух полученных данных. Это позволяет точно измерить распределение электромагнитного поля ППП над проводящей поверхностью.
Новизна
Введен дополнительный этап измерения, позволяющий выделить паразитные объемные волны и повысить точность измерений ППП. Устройство использует инновационную схему экранирования и отдельную регистрацию ОВ.
Преимущества
Повышение точности измерения поля ППП на 16%
Возможность работы с реальными металлическими и металлизированными поверхностями
Применение метода бесконтактной плазмонной рефрактометрии для ТГц диапазона
Формы сотрудничества
Лицензионные соглашения на использование технологии
Область применения
Исследование физико-химических процессов на металлических поверхностях, ТГц рефрактометрия для оптических и лазерных зеркал, сенсорные устройства, контрольные системы ТГц диапазона.
Интеллектуальная собственность
Патент РФ на изобретение, НТЦ УП РАН и НГУ выдан в 2024 году